Перечень проводимых испытаний

Испытательная лаборатория располагает широким спектром измерительного оборудования ведущих международных фирм-производителей, которое позволяет осуществлять:

• тестирование БИС и СБИС (микросхем памяти и контроллеров);

• СВЧ микросхем и бескорпусных кристаллов с использованием:

• 4-х портового векторного анализатора цепей (10 МГц-40 ГГц) с возможностями: измерение S-параметров, измерение шумовых параметров, измерение параметров устройств со смещением фазы, измерение параметров устройств со смещением частоты;

• спектроанализатора (5кГц-20ГГц), и 2-х портового векторного генератора сигнала (100кГц-6ГГц) с возможностями смещения фазы, генерации 2-х тонового сигнала, сигналов специфической формы;

• тестирование цифровых сигнальных процессоров;

• дискретных микросхем, в том числе ЦАП и АЦП;

• тестирование ПЛИС;

• преобразователей интерфейсов, протоколов, микросхем средней степени интеграции, Программируемых логических интегральных схем и других микросхем цифровой обработки сигналов;

• тестирование пассивных элементов электронной компонентной базы;

• тестирование полупроводников (транзисторов, диодов, светодиодов, оптопар, источников питания, конвертеров, вентиляторов, реле, кварцевых генераторов, простых операционных усилителей, источников опорного напряжения).

Мы осуществляем разработку и производство собственной технологической оснастки.